a.性.com_国产1024在线免费视频_国产综合色婷婷精品久久_日本一区二区三区真人免费_超薄丝袜足j好爽在线观看_成年轻人视频www无码_九九色在线视频_av在线观看亚洲一区二区_国产精品亚洲精品韩日已满

蘇州科準測控有限公司歡迎您!
技術文章
首頁 > 技術文章 > 半導體封裝必看:基于推拉力測試機的晶圓鍵合強度檢測標準全解析

半導體封裝必看:基于推拉力測試機的晶圓鍵合強度檢測標準全解析

 更新時間:2025-06-18 點擊量:59

隨著半導體技術節點不斷逼近物理極限,三維集成與先進封裝技術已成為延續摩爾定律的重要途徑。晶圓鍵合作為實現3D封裝的核心工藝,其可靠性直接決定了最終器件的性能與良率。然而,由于異質材料間的熱失配、晶格失配以及工藝參數復雜等因素,鍵合界面的可靠性面臨嚴峻挑戰。 

本文科準測控小編將從鍵合原理出發,詳細介紹晶圓鍵合可靠性的評價標準、測試方法及關鍵儀器應用,為行業提供一套完整的工藝可靠性分析方案,助力國內半導體企業突破先進封裝技術瓶頸。

 

一、晶圓鍵合可靠性分析原理

1鍵合界面力學特性

晶圓鍵合可靠性本質上取決于界面原子或分子間的結合強度。根據鍵合類型不同,界面作用力可分為:

化學鍵合力:共價鍵(熔融鍵合)、離子鍵(陽極鍵合)和金屬鍵(銅-銅鍵合)

物理吸附力:范德華力(臨時鍵合膠)和氫鍵

機械互鎖力:共晶鍵合和熱壓鍵合中的微觀機械錨定效應

鍵合強度通常用界面斷裂能(Gc)表示,定義為分離單位面積鍵合界面所需能量,單位為J/m2。高質量永jiu鍵合的Gc應接近材料本體斷裂能(硅約為2.5 J/m2)。

2可靠性失效機制

鍵合工藝常見的失效模式包括:

界面分層:由表面污染、活化不足或熱應力引起

空洞缺陷:鍵合過程中氣體滯留形成

熱機械失效:CTE失配導致循環應力積累

電遷移:混合鍵合中銅互連的電流密度問題

3可靠性評價維度

image.png

二、晶圓鍵合可靠性測試標準

MIL-STD-883:方法2019.7規定芯片剪切測試方法

JESD22-B109:晶圓級鍵合剪切強度測試標準

SEMI G86:臨時鍵合/解鍵合工藝指南

DIN EN ISO 19095:塑料-金屬界面粘附力評估

2關鍵測試項目及標準

A、剪切強度測試(依據JESD22-B109

測試目的:評估鍵合界面抗剪切應力能力

合格標準:

-硅直接鍵合:≥15 MPa

銅混合鍵合:≥50 MPa

臨時鍵合膠:5-15 MPa

B、拉伸強度測試(依據ASTM F692

測試方法:使用圓柱形夾具垂直分離鍵合對

典型要求:≥5 MPa(永jiu鍵合)

C、熱循環測試(依據JESD22-A104

條件:-55~125℃,1000次循環

判定標準:強度衰減<20%

 

三、檢測設備(剪切強度測試)

1Beta S100推拉力測試機

image.png 

1、設備介紹

Beta S100推拉力測試機是一種專為微電子領域設計的動態測試設備,廣泛應用于半導體封裝、LED封裝、光電子器件封裝等多個行業。該設備采用先進的傳感技術,能夠精確測量材料或組件在推力、拉力和剪切力作用下的強度和耐久性。其主要特點包括:

a、高精度:全量程采用自主研發的高精度數據采集系統,確保測試數據的準確性。

b、多功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。

c、操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數據輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網絡系統。

2、產品特點

image.png 

3、常用工裝夾具

image.png 

4、實測案例

image.png 

image.png 

四、可靠性測試流程

步驟一、測試前準備

1樣品制備

鍵合對切割為10×10mm2測試單元

標記測試位置(避開劃片道)

2設備校準

力傳感器歸零

光學系統焦距校準

溫度平臺驗證(如適用)

步驟二、標準測試流程

1非破壞性篩查

使用聲學顯微鏡(SAM)檢測界面空洞

合格標準:空洞面積<5%

2剪切強度測試

將樣品固定在加熱平臺(根據測試要求)

刀頭以50μm/s速度接近樣品

接觸后自動檢測初始接觸力(閾值0.01N

以設定速度(通常100μm/s)施加剪切力

記錄最大斷裂力和失效模式

3數據分析

計算平均強度及Weibull分布

失效模式分類:

界面斷裂(粘附失效)

內聚斷裂(材料本身破壞)

混合失效

4加速老化測試

高溫高濕存儲(85/85%RH96h

熱沖擊測試(-65~150℃,100次)

測試后重復步驟2-3

步驟三、典型測試報告內容

樣品信息(材料、工藝參數)

測試條件(溫度、濕度、速度)

原始數據及統計結果

失效模式顯微照片

Weibull分布曲線

與工藝規范的符合性判定

 

五、案例研究:銅混合鍵合可靠性分析

1測試條件

樣品:12英寸晶圓,5μm銅凸點

鍵合參數:300/40kN/30min

對比組:不同CMP粗糙度(Ra=1nm vs 3nm

2測試結果

image.png

5.3、結論

表面粗糙度對鍵合可靠性影響顯著:

Ra=1nm組表現出更高強度及一致性

粗糙表面導致應力集中,降低界面結合

優化CMP工藝可提高可靠性30%以上

 

以上就是小編介紹的有關于晶圓鍵合工藝可靠性測試相關內容了,希望可以給大家帶來幫助!如果您還想了解更多關于推拉力測試機廠家、怎么使用視頻和圖解,品使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻 ,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題,歡迎您關注我們,也可以給我們私信和留言,【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。